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TC设备高低温试验箱

产品型号:  ZK-GDW-1000L

更新时间:  2020-06-29

访问量:  93

所  在  地:  广东省东莞市桥头镇岭头社区工业大路一巷35号

产品特点:  东莞中科测试有限公司是高低温试验箱专业的制造商与供应商,TC设备高低温试验箱应用在碳基IC芯片、硅基IC芯片、PCB电路板、光通讯模块、CPU处理器、混合电路、运算放大器、开关电源芯片等产品进行冷热循环测试、高低温交变测试、高低温恒定测试、高低温循环测试、高低温冲击测试、失效分析的可靠性试验。

(联系我们,请说明是在 东莞中科测试设备有限公司 上看到的信息,谢谢!)

产品概述

TC设备高低温试验箱概述

1.TC设备应用于硅基半导体芯片、碳基半导体芯片、闪存Flash或EMMC、PCB电路板、光通讯收发器、SFP光模块、CPU处理器、运算放大器、开关电源芯片、混合电路等进行高温测试、低温测试、冷热循环测试、高低温交变测试、温度冲击测试,快速温变测试,失效分析等可靠性试验。

2.控制系统优势:中英文菜单式人机对话操作方式,有开机自检功能、温度线性校正、自动停机、系统预约定时启动功能;实现工业自动化,带数据交互功能,能与客户主机链接实现远程监控,了解设备运行状态,可以通过任何移动终端监控。

 

TC设备高低温试验箱性能指标

1.温度范围:-40℃~+150℃;-50℃~+150℃;-60℃~+150℃;-70℃~+150℃。(高温可定制:+250℃)

2.试验测试温度范围:-40℃~+85℃;-40℃~+120℃;-55℃~+125℃。(可根据试验要求选择温度范围)

3.试验测试方式:高低温循环试验、冷热循环试验、高低温恒定试验、高低温交变试验。

4.温度稳定度:±0.3℃。

5.温度均匀度:±1.5℃。

6.升温速率:3℃~4℃/min平均值。(可定制温变速率为:5℃/min;10℃/min;15℃/min20℃/min;25℃/min,线性与非线性温变。)

7.降温速率:0.7℃~1℃/min平均值。(可定制温变速率为:5℃/min;10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min,线性与非线性温变。)

8.制冷系统:原装进口压缩机及制冷配件模块化机组设计,方便日常维护与保养。

9.制冷方式:机械压缩单级制冷或二元复叠制冷(风冷或水冷)。

10.加热系统:进口SUS304#不锈钢鳍片式耐热、耐寒加热管,加热空气式控温。

11.节能方式:冷端PID调节(即加热不制冷,制冷不加热),比平衡调温方式节能30%。

12.标准配置:观测窗一个;LED视窗灯一支;保险管2支;物料架2套。

13.噪音处理:整机运行时≤60dB(A级),满足100万级无尘车间生产工艺需求。

14.前端空气经干燥过滤器处理,产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。

15.保护装置:压缩机过载、过流、超压保护、漏电保护、内箱超温保护、加热管空焚保护。

16.电源:AC220V(三线制)±10% 或 AC380V(五线制)±5%。

17.高低温试验箱可供选择的型号及规格如下:

 型 号          内箱尺寸(mm)          外箱尺寸(mm)

ZK-GDW -80L       W400×H500×D400        W1000×H1330×D850

ZK-GDW-120L       W500×H600×D400        W1000×H1530×D850

ZK-GDW-150L       W500×H600×D500        W1000×H1850×D950

ZK-GDW-225L       W500×H750×D600        W1000×H1680×D1050

ZK-GDW-408L       W600×H850×D800        W1100×H1780×D1250

ZK-GDW-800L       W1000×H1000×D800       W1500×H1930×D1250

ZK-GDW-1000L      W1000×H1000×D1000      W1500×H1930×D1450

根据客户需求非标定做......

 

高低温试验箱试验执行及满足标准

1.GJB/150.3-2009 高温试验。

2.GJB/150.4-2009 低温试验。

3.GB/T 2423.1-2008 试验A:低温试验方法。

4.GB/T 2423.2-2008 试验B:高温试验方法。

5.GB/T2423.22-2012 试验N:温度变化试验方法。

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