温度快速变化测试箱通过温变速率为15℃/min、20℃/min、25℃/min对半导体、5纳米芯片、动力电池模组、光伏组件、汽车配套、5G基站天线、PCB电路板、石墨烯屏幕进行高温快速温变试验、低温快速温变试验，高低温恒定试验，使产品在周围大气环境温度急剧变化条件下的适应性试验及温度应力筛选试验。

温度快速变化测试箱技术参数

1.系统：平衡调温控制系统（BTC）。

2.循环方式：强制空气循环。

3.温度范围：-40℃～+150℃，-60℃～+150℃，-70℃～+150℃。

4.温变范围：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可定制：线性温变或非线性温变）

5.温度波动度：±0.5℃。

6.温度均匀度：±1.5℃。

7.温度偏差：≤2℃。

8.负载：5Kg铝锭，5Kg铝锭，10Kg铝锭,20Kg铝锭,50Kg铝锭。

9.温变速率：5℃/分钟，10℃/分钟，15℃/分钟，20℃/分钟，25℃/分钟线性快速降温。

温度快速变化试验箱执行与满足标准

1.IEC68-2-1试验A。

2.IEC68-2-1试验B。

3.GJB1032-90环境应力筛选方法。

4.GB2423.1-89试验A低温试验方法。

5.GB2423.2-89试验B低温试验方法。

6.MIL-STD-2164电子产品应力筛选方法。

7.MIL-2164A-19电子设备环境应力筛选方法。

8.GJB234-5.1.6电子产品定量环境应力筛选方法。